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  • 标准号
  • 名称
  • 状态
  • 类型
  • 性质
  • 实施日期
  • SJ 2214.1-1982
    半导体光敏管测试方法总则
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.14-1983
    PIN、雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.13-1983
    PIN、雪崩光电二极管倍增因子的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.12-1983
    PIN、雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.11-1983
    PIN、雪崩光电二极管列阵盲区宽度的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.10-1983
    PIN、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.9-1983
    PIN、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.8-1983
    PIN、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.7-1983
    PIN、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.6-1983
    PIN、雪崩光电二极管响应度的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.5-1983
    PIN、雪崩光电二极管电容的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.4-1983
    PIN、雪崩光电二极管正向压降的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.3-1983
    PIN、雪崩光电二极管暗电流的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.2-1983
    PIN、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.1-1983
    PIN、雪崩光电二极管光电参数测试方法.总则
    暂无
    暂无
    暂无
  • JB/T 982-1977
    组合密封垫圈
    暂无
    暂无
    暂无
  • JB 589-1979
    平盖手孔
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2215.14-1982
    半导体光耦合器入出间绝缘耐压的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2215.13-1982
    半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2215.12-1982
    半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
共 315198 条