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  • 标准号
  • 名称
  • 状态
  • 类型
  • 性质
  • 实施日期
  • SJ 2354.5-1983
    PIN、雪崩光电二极管电容的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.4-1983
    PIN、雪崩光电二极管正向压降的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.3-1983
    PIN、雪崩光电二极管暗电流的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.2-1983
    PIN、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.1-1983
    PIN、雪崩光电二极管光电参数测试方法.总则
    暂无
    暂无
    暂无
  • JB/T 982-1977
    组合密封垫圈
    暂无
    暂无
    暂无
  • JB 589-1979
    平盖手孔
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2215.14-1982
    半导体光耦合器入出间绝缘耐压的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2215.13-1982
    半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2215.12-1982
    半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2215.11-1982
    半导体光耦合器脉冲、上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2215.10-1982
    半导体光耦合器直流电流传输比的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2215.9-1982
    半导体光耦合器（三极管）反向截止电流的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2215.8-1982
    半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2215.7-1982
    半导体光耦合器集电极-发射极反向击穿电压的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2215.6-1982
    半导体光耦合器（二极管）结电容的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2215.5-1982
    半导体光耦合器（二极管）反向击穿电压的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2215.4-1982
    半导体光耦合器（二极管）反向电流的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2215.3-1982
    半导体光耦合器（二极管）正向电流的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2215.2-1982
    半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
共 315208 条