• 当前位置：
    首页 规范标准 全部标准

规范标准

Standard Resource
  • 标准号
  • 名称
  • 状态
  • 类型
  • 性质
  • 实施日期
  • SJ 2658.1-1986
    半导体红外发光二极管测试方法.总则
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2214.10-1982
    半导体光敏二、三极管光电流的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2214.9-1982
    半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2214.8-1982
    半导体光敏三极管暗电流的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2214.7-1982
    半导体光敏三极管饱和压降的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2214.6-1982
    半导体光敏三极管集电极.发射极反向击穿电压的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2214.5-1982
    半导体光敏二极管结电容的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2214.4-1982
    半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2214.3-1982
    半导体光敏二极管暗电流的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2214.2-1982
    半导体光敏二极管正向压降的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2214.1-1982
    半导体光敏管测试方法总则
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.14-1983
    PIN、雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.13-1983
    PIN、雪崩光电二极管倍增因子的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.12-1983
    PIN、雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.11-1983
    PIN、雪崩光电二极管列阵盲区宽度的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.10-1983
    PIN、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.9-1983
    PIN、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.8-1983
    PIN、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.7-1983
    PIN、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.6-1983
    PIN、雪崩光电二极管响应度的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
共 315208 条